Опубликовано: Tue, 13 Aug 2024 07:05:23 GMT
Канал: Все статьи подряд / Электроника для начинающих / Хабр

Когда я плотно занимался аппаратным тестированием, в рамках разработки embedded-устройств, часто бывало так, что инженеры-разработчики и я оказывались в условиях жесткого ограничения в выборе возможных компонентов NAND или eMMC. И в этой связи очень часто возникала необходимость дополнительных проверок каждого из компонентов на долговечность и качество работы. Очень часто приходилось проверять чипы-кандидаты на общий ресурс записи/чтения, скорости операций и т. п. И мне пришла идея, почему бы не поделиться своим опытом с другими специалистами, перед которыми стоят аналогичные задачи. Я хотел бы рассказать в данной статье, что такое Flash-память, почему они выходят из строя и как я организовал тестирование, как через тестирование минимизировать риски при выборе устройства хранения для разрабатываемого устройства. Всем, кому интересна данная тема — приглашаю под кат. Читать далее

https://habr.com/ru/companies/timeweb/articles/835154/