Исследователи из Университета имени Давида Бен-Гуриона в Негеве (Израиль) на проходящей на днях конференции USENIX Security 2017 опубликовали результаты эксперимента по оценке возможности внедрения в смартфоны шпионских и вредоносных закладок через установку во время ремонта специально модифицированных деталей.
Ссылка: http://www.opennet.ru/opennews/art.shtml?num=47050